#Tianqi Liu


Large-tilt Heavy Ions Induced SEU in Multiple Radiation Hardened 22 nm FDSOI SRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Characterization of Heavy Ion Induced SET Features in 22-nm FD-SOI Testing Circuits

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Simulation of the characteristics of low-energy proton induced single event upset

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of edge effects on single event upset susceptibility of SOI SRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Effects of total ionizing dose on single event effect sensitivity of FRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Heavy Ion Radiation Effects on a 130-nm COTS NVSRAM Under Different Measurement Conditions

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Impact of temperature on single event upset measurement by heavy ions in SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Anomalous annealing of floating gate errors due to heavy ion irradiation

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Supply voltage dependence of single event upset sensitivity in diverse SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Evaluation Method of Heavy-Ion-Induced Single-Event Upset in 3D-Stacked SRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
LabXing 上可以免费创建课题组网站
© LabXing 2018 关于LabXing 帮助中心 testing.service 京公网安备11010802025734号