#Tian-Qi Liu

Heavy-ion and pulsed-laser single event effects in 130-nm CMOS-based thin/thick gate oxide anti-fuse PROMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Simulation of temporal characteristics of ion-velocity susceptibility to single event upset effect

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Erratum to: Experimental study on heavy ion single-event effects in flash-based FPGAs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Prediction of proton-induced SEE error rates for the VATA160 ASIC

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Monte Carlo predictions of proton SEE cross-sections from heavy ion test data

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Impact of energy straggle on proton-induced single event upset test in a 65-nm SRAM cell

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Heavy-ion induced radiation effects in 50 nm NAND floating gate flash memories

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influences of total ionizing dose on single event effect sensitivity in floating gate cells

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Large energy-loss straggling of swift heavy ions in ultra-thin active silicon layers

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

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