#Kai Xi


Simulation of the characteristics of low-energy proton induced single event upset

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of edge effects on single event upset susceptibility of SOI SRAMs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Heavy Ion Radiation Effects on a 130-nm COTS NVSRAM Under Different Measurement Conditions

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Erratum to: Experimental study on heavy ion single-event effects in flash-based FPGAs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Impact of temperature on single event upset measurement by heavy ions in SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Prediction of proton-induced SEE error rates for the VATA160 ASIC

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Monte Carlo predictions of proton SEE cross-sections from heavy ion test data

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Large energy-loss straggling of swift heavy ions in ultra-thin active silicon layers

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Supply voltage dependence of single event upset sensitivity in diverse SRAM devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所
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