#Bin Wang


Heavy Ion Radiation Effects on a 130-nm COTS NVSRAM Under Different Measurement Conditions

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Erratum to: Experimental study on heavy ion single-event effects in flash-based FPGAs

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Prediction of proton-induced SEE error rates for the VATA160 ASIC

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Monte Carlo predictions of proton SEE cross-sections from heavy ion test data

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所

Impact of energy straggle on proton-induced single event upset test in a 65-nm SRAM cell

单粒子效应研究组 , 中国科学院近代物理研究所