array(2) { ["lab"]=> string(3) "858" ["publication"]=> string(5) "14798" } Whether “Rich in Frequency” Means “Rich in Information” in Pulsed Eddy Current Testing to Evaluate Plate Thickness: Numerical Investigation - 9号电磁无损检测实验室 | LabXing

9号电磁无损检测实验室

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大学 南京航空航天大学 / 自动化学院
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Whether “Rich in Frequency” Means “Rich in Information” in Pulsed Eddy Current Testing to Evaluate Plate Thickness: Numerical Investigation

2022
期刊 MATERIALS TRANSACTIONS
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