Analysis and reduction of SRAM PUF Bit Error Rate - 河科大电子系 IC课题组 | LabXing

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河科大电子系 IC课题组

简介

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Analysis and reduction of SRAM PUF Bit Error Rate

2017

会议 2017 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)

作者 Hirofumi Shinohara · Baikun Zheng · Yanhao Piao · Bo Liu · Shiyu Liu

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IEEE
DOI: 10.1109/vlsi-dat.2017.7939688

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