array(2) { ["lab"]=> string(4) "1537" ["publication"]=> string(5) "14872" } 基于90nm工艺节点的MOSFET版图失配研究  - 河科大电子系 IC课题组 | LabXing

基于90nm工艺节点的MOSFET版图失配研究 

2015
期刊 半导体技术
作者 张雷鸣 · *刘博 · 张金灿
  • 卷 40
  • 期 07
  • 页码 499~506