Experimental estimation of charge neutrality level of SiO2 - 铁电器件课题组（王晓磊） | LabXing

array(2) { ["lab"]=> string(4) "1352" ["publication"]=> string(5) "11880" } Experimental estimation of charge neutrality level of SiO2 - 铁电器件课题组（王晓磊） | LabXing

铁电器件课题组（王晓磊）

简介半导体存储器件

关注

Experimental estimation of charge neutrality level of SiO2

2017

期刊 Applied Surface Science

作者 Jing Zhang · Shuhua Wei · Xiaolei Wang · Jinjuan Xiang · Wenwu Wang

下载全文

卷 422
页码 690-695
Elsevier BV
ISSN: 0169-4332
DOI: 10.1016/j.apsusc.2017.06.078

LabXing 上可以免费创建课题组网站