这个实验室处于未激活状态 - 等待LabXing管理员的批准
Air-Gap Through-Silicon Vias
2013
期刊
IEEE Electron Device Letters
下载全文
- 卷 34
- 期 3
- 页码 441-443
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- ISSN: 0741-3106
- DOI: 10.1109/led.2013.2239601